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射线测厚仪(钢)M296354
M296354
射线测厚仪(钢)M296354 该型仪表可用于金属轧制过程中板、带、箔材的厚度测量,采用4位数字显示厚度,并可选配厚度同步显示器,C型测量架可手动或自动进出测量位。根据测量材质和测厚范围的不同,可选用不同的放射源。当采用低能γ源时,测厚的带钢和铜带厚度约在0-4.00mm,误差在微米量级,测量铝带的厚度可达几十毫米,误差在0.01mm量级;当采用β源测量铝带和铝箔时,误差在微米量级。
射线测厚仪(钢)
CN61M/HDY5021
射线测厚仪(钢) 该型仪表可用于金属轧制过程中板、带、箔材的厚度测量,采用4位数字显示厚度,并可选配厚度同步显示器,C型测量架可手动或自动进出测量位。根据测量材质和测厚范围的不同,可选用不同的放射源。当采用低能γ源时,测厚的带钢和铜带厚度约在0-4.00mm,误差在微米量级,测量铝带的厚度可达几十毫米,误差在0.01mm量级;当采用β源测量铝带和铝箔时,误差在微米量级。
多功能检漏仪 型号:BTB1FH2001
BTB1FH2001
使用范围:*接触测量:可以检测轴承齿轮的磨损及阀门的内、外漏等。*非接触测量:可测量压力、真空泄漏、电弧、电晕、放电及通过信号发射、接收来检测 、容器、管道、热交换器换热管等的严密性。
路面测厚仪 型号:m32465
m32465
·符合德国标准 TPD-StB89 道路铺设面层厚度的检测规范 ·无损测量 ·直接厚度显示 ·测量范围:0-30cm,分辨率0.1cm ·测量密度:每车道、每50米、每层1测量点 ·测量不受地面湿度、温度、介电系数等环境条件影响 ·可重复测量,地下反射极可长期使用
路面测厚仪 型号:DE15-EK10-4100
DE15-EK10-4100
·符合德国标准 TPD-StB89 道路铺设面层厚度的检测规范 ·无损测量 ·直接厚度显示 ·测量范围:0-30cm,分辨率0.1cm ·测量密度:每车道、每50米、每层1测量点 ·测量不受地面湿度、温度、介电系数等环境条件影响 ·可重复测量,地下反射极可长期使用
磁性测厚仪 型号:m32608
m32608
用途磁性测厚仪基于磁阻原理,可以用来测量磁性材料表面上非磁性涂层.电镀层的厚度,无论被测涂层是金属(如铜.铬.铝.锌.银)还是非金属(油漆.塑料.涂料等)均可进行测量
磁性测厚仪 型号:TY19
TY19
用途磁性测厚仪基于磁阻原理,可以用来测量磁性材料表面上非磁性涂层.电镀层的厚度,无论被测涂层是金属(如铜.铬.铝.锌.银)还是非金属(油漆.塑料.涂料等)均可进行测量
漆膜测厚仪 型号:m32610
m32610
测试涂料性能及指标均需涂料涂敷在底版上进行,其涂层厚度即将为重要基本数据
漆膜测厚仪 型号:TY19
TY19
用途 测试涂料性能及指标均需涂料涂敷在底版上进行,其涂层厚度即将为重要基本数据.本仪器用以测量试板上的涂层厚度,符合GB1764-79
楼板测厚仪 型号:M33228
M33228
测试方法: 发射探头与接收探头分别置于被测楼板的上下两侧,仪器上显示的值既为两探头之间的距离,只需要移动接收探头,当仪器显示为最小值时,既为楼板的厚度。
楼板测厚仪 型号:CN61M/SLF1-DJLC-A
CN61M/SLF1-DJLC-A
测试方法: 发射探头与接收探头分别置于被测楼板的上下两侧,仪器上显示的值既为两探头之间的距离,只需要移动接收探头,当仪器显示为最小值时,既为楼板的厚度。
数显式磁性测厚仪 型号:TS28-QUC-200(台式)
TS28-QUC-200
测定铁磁性材料表面上非磁性涂镀层的厚度范围0-200μm 精度±(0.7μm+3%H) 执行GB/T1764-79 GB/T134522-92 ISO2808-74标准
便携式数显测厚仪(磁性) 型号:M36503
M36503
测定铁磁性材料表面上非磁性涂镀层的厚度. 范围0-1250μm精度±(3%H+1)μm (零点校准)±[(1-3)%H+1]μm(二点校准)
便携式数显测厚仪(磁性) 型号:TS28-TT220
TS28-TT220
测定铁磁性材料表面上非磁性涂镀层的厚度. 范围0-1250μm精度±(3%H+1)μm (零点校准)±[(1-3)%H+1]μm(二点校准)
湿膜测厚仪(25-3000um) 型号:M36506
M36506
梳式测厚仪是尺状的,在六面都有支撑基点,每个面均有不同长度的齿。测量时,将量程范围与漆膜估计厚度相近的那个面垂直地压入湿膜。
湿膜测厚仪(25-3000um) 型号:TS28-1101
TS28-1101
梳式测厚仪是尺状的,在六面都有支撑基点,每个面均有不同长度的齿。测量时,将量程范围与漆膜估计厚度相近的那个面垂直地压入湿膜。测量范围25~3000μm
薄膜测厚仪 型号:M36861
M36861
薄膜测厚仪,适用于介质,半导体,薄膜滤波器和液晶等薄膜和涂层的厚度测量。该薄膜测厚仪,是我公司与美国new-span公司合作研制的,采用new-span公司先进的薄膜测厚技术,基于白光干涉的原理来测定薄膜的厚度和光学常数(折射率n,消光系数k)。它通过分析薄膜表面的反射光和薄膜与基底界面的反射光相干形成的反射谱,用相应的软件来拟合运算,得到单层或多层膜系各层的厚度d,折射率n,消光系数k。该设备关
薄膜测厚仪 型号:GKDJ-SGC10
GKDJ-SGC10
薄膜测厚仪,适用于介质,半导体,薄膜滤波器和液晶等薄膜和涂层的厚度测量。该薄膜测厚仪,是我公司与美国new-span公司合作研制的,采用new-span公司先进的薄膜测厚技术,基于白光干涉的原理来测定薄膜的厚度和光学常数(折射率n,消光系数k)。它通过分析薄膜表面的反射光和薄膜与基底界面的反射光相干形成的反射谱,用相应的软件来拟合运算,得到单层或多层膜系各层的厚度d,折射率n,消光系数k。该设备关
超声波测厚仪 型号:M45367
M45367
LC系列超声波测厚仪是运用单片机技术研制的一种低功耗、低下限、袖珍式智能仪器。该机灵敏度高,稳定性好,工作可靠,操作简便。广泛用于石油、机械、船舶等行业检测管道、锅炉和压力容器的壁厚。是设备安全运行的保障。还配有小管径探头(φ4、φ6、φ8),高、中温探头以供选择。
超声波测厚仪 型号:CN61M/LC-902
CN61M/LC-902
LC系列超声波测厚仪是运用单片机技术研制的一种低功耗、低下限、袖珍式智能仪器。该机灵敏度高,稳定性好,工作可靠,操作简便。广泛用于石油、机械、船舶等行业检测管道、锅炉和压力容器的壁厚。是设备安全运行的保障。还配有小管径探头(φ4、φ6、φ8),高、中温探头以供选择。
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